XF-S8貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬行業(yè)推出的一款專用檢測萬足金的旗艦X射線熒光光譜儀，支持貴金屬成分檢測和液體濃度檢測，可廣泛應(yīng)用于珠寶首飾工廠、實驗室、檢測站和回收等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品采用美國AMPTEK定制Fast-SDD探測器，內(nèi)置十二核工控電腦，采用X射線與可見光共焦點光路設(shè)計和全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高，適用范圍廣。

產(chǎn)品特點

元素檢測范圍：鋁(13)～鈾(92)          

可支持最多30個元素同時計算

鍍層報警、錸鎢檢測報警

可支持寶石人工/天然分析

分析范圍：

貴金屬：0.0010%～99.9999%

鍍層：0.001um~80um

液體：5mg/L~200g/L

檢測精度：

貴金屬：±0.001%(99999金)

鍍層：RSD≤1.5%

液體：RSD≤1.5%

檢測樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/液體

支持多點連續(xù)測試，測試效率高

三準(zhǔn)直器，多濾光片自動切換

遵守ISO3497及ISO3497標(biāo)準(zhǔn)

支持連接天平采集重量數(shù)據(jù)以及獲取黃金實時牌價計算價格

支持自動計算多結(jié)果的平均值和RSD

核心部件

探測器：美國AMPTEK定制Fast-SDD

面積：70mm²

分辨率：125±5eV

HEE重元素檢測增強(qiáng)技術(shù)

內(nèi)置工控電腦：Intel i5十二核

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鈹

靶材：鎢

焦點：Φ0.1mm

準(zhǔn)直器：Φ0.5mm/Φ1.0mm/Φ2.0mm