XF-S8Lite貴金屬檢測(cè)儀是西凡儀器針對(duì)貴金屬行業(yè)推出的一款專用檢測(cè)萬(wàn)足金的旗艦X射線熒光光譜儀，支持貴金屬成分檢測(cè)和液體濃度檢測(cè)，可廣泛應(yīng)用于珠寶首飾工廠、實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)站和回收等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品采用美國(guó)AMPTEK定制Fast-SDD探測(cè)器，內(nèi)置十二核工控電腦，采用X射線與可見(jiàn)光共焦點(diǎn)光路設(shè)計(jì)和全新的Smart FP算法。檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高，適用范圍廣。

產(chǎn)品特點(diǎn)

元素檢測(cè)范圍：鋁(13)～鈾(92)

可支持最多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算

鍍層報(bào)警、錸鎢檢測(cè)報(bào)警

分析范圍：

貴金屬：0.0010%～99.9999%

液體：5mg/L~200g/L

檢測(cè)精度：

貴金屬：±0.001%(99999金)

液體：RSD≤1.5%

檢測(cè)樣品：貴金屬合金/液體

支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高

三準(zhǔn)直器，多濾光片自動(dòng)切換

遵守ISO3497及ISO3497標(biāo)準(zhǔn)

支持連接天平采集重量數(shù)據(jù)以及獲取黃金實(shí)時(shí)牌價(jià)計(jì)算價(jià)格

支持自動(dòng)計(jì)算多結(jié)果的平均值和RSD