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當(dāng)前位置:美薩科技(蘇州)有限公司>>科學(xué)儀器>>Otsuka大塚膜厚儀>> Otsuka大塚SF-3Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀 體積小

Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀 體積小

參   考   價: 100000

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號Otsuka大塚SF-3

品       牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地蘇州市

更新時間:2025-06-12 15:03:00瀏覽次數(shù):83次

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應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件
Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀 體積小即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測 采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性 可進(jìn)行高速...

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Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀 體積小即時檢測

WAFER基板于研磨制程中的膜厚

玻璃基板(強(qiáng)酸環(huán)境中)于減薄制程中的厚度變化

● 非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測
● 采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性
● 可進(jìn)行高速的即時研磨檢測
● 可穿越保護(hù)膜、觀景窗等中間層的檢測
● 可對應(yīng)長工作距離、且容易安裝于產(chǎn)線或者設(shè)備中
● 體積小、省空間、設(shè)備安裝簡易
● 可對應(yīng)線上檢測的外部信號觸發(fā)需求
● 采用適合膜厚檢測的獨(dú)自解析演算法。
● 可自動進(jìn)行膜厚分布制圖(選配項(xiàng)目)
各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得(電子天平)、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥) HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚(膜厚儀、粒度儀),Hitachi日立(掃描電鏡),MIKASA米卡薩(旋涂設(shè)備、顯影)、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克(檢查光源)、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子(光學(xué)膜厚儀)、KOSAKA小坂(臺階儀)、HORIBA堀場儀器(分析儀)、SIBATA柴田科學(xué)(環(huán)境測定)、TORAY東麗濃度儀(氧氣分析儀)、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)

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