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ZEISS SPECTRUM 三坐標測量機

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 北京瑞科中儀科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 ZEISS SPECTRUM
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2024/7/9 21:40:18
  • 訪問次數(shù) 664

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北京瑞科中儀科技有限公司專注半導體材料研究分析設備的研發(fā)和應用。專業(yè)的團隊,專精的服務,提供理想的解決方案。

我們長期專注于半導體材料研究與分析設備的經(jīng)銷和代理,為高校、企業(yè)科研工作者提供專業(yè)的分析解決方案。以專業(yè)技能為導向,用科技來解決用戶在科研中遇到的難題。專業(yè)的技術工程師和科研工作者進行現(xiàn)場演示和技術交流,打消顧慮,彼此協(xié)作,為我國的科研領域譜寫新篇章。

北京瑞科中儀科技有限公司長期代理銷售供應多種分子材料的研究分析設備,其中包括但不限于掃描電子顯微鏡、感應耦合等離子體化學氣相沉積系統(tǒng)、離子束刻蝕機、等離子清洗機、物理氣相沉積系統(tǒng)以及各品牌的光學顯微鏡以及實驗室設備儀器。

客戶至上的服務理念,以人為本的企業(yè)文化,我們始終為用戶提供專業(yè)的服務!

合作丨共贏,選擇我們,選擇未來!

 

半導體材料分析,材料刻蝕

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 產(chǎn)品種類 橋式
工作方式 水平式 工作原理 自動型
價格區(qū)間 面議 應用領域 環(huán)保,化工,電子/電池

三坐標測量機

貴公司的生產(chǎn)計劃是否需要得到更好地執(zhí)行?是否實現(xiàn)了預期的增長率?沒有時間應對投訴和由于遺漏缺陷產(chǎn)品的誤差檢測而導致的生產(chǎn)力降低?

  使用新款ZEISS SPECTRUM, 您的生產(chǎn)確定性和效率將提升至一個新的高度。您對這些產(chǎn)品的信賴源于其測量結果的可靠性。升級,讓測量結果更可靠。

  全面的故障檢測。零產(chǎn)品不合格率。

  升級后的六大優(yōu)勢可助您精準、高效地識別缺陷產(chǎn)品。憑借著先的掃描技術,計算機輔助精度(CAA),高分辨率測量,系統(tǒng)穩(wěn)定性—ZEISS SPECTRUM在同類產(chǎn)品中的表現(xiàn)尤為突出。

  升級確定性。

  獲得巨大的價值

  新型ZEISS SPECTRUM三坐標測量機的先進技術將使您獲得更高的品質(zhì)。此外,ZEISS VAST XXT的掃描技術可實現(xiàn)圓度誤差測量,這對于不斷提高的質(zhì)量和生產(chǎn)率需求來說將是理想選擇。

  測量技術

  為您的測量結果提供更好的數(shù)據(jù)質(zhì)量

  ZEISS SPECTRUM 可搭載各種接觸式傳感器,包括ZEISS VAST XXT和XDT。ZEISS VAST XXT的掃描功能注重于效率和更可靠的測量:可以快速地檢測工件的大量且高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。其消除了單點測量所帶來的測量誤差,因此實現(xiàn)了更高的可靠性和重復性。

  

 

  觸發(fā)式探頭與掃描技術

  信賴您的產(chǎn)品:高分辨率的故障檢測。

  在測量任務中擁有更多靈活性

  ZEISS VAST XXT和RDS-C5 CAA的組合大大地提高了靈活性并縮短了測量的操作時間。其還可以為更復雜的工件創(chuàng)建廣泛的測量任務。

  

 

  節(jié)省時間和成本。提升您的效率。

  成本效益

  具有計算輔助精度(CAA)的RDS擁有約5184個可能角度的位置鑒定插值。它可以為探頭旋轉提供更多位置,縮短校準時間并顯著延長操作時間。掃描傳感器還具有CAA功能,并且可以縮短鑒定時間,速度比平時快12倍:鑒定約為12分鐘,重新鑒定為5分鐘。

  穩(wěn)定。堅固。可靠。

  功能—在真實的狀況下

  因堅固的制造品質(zhì)而精準:

  堅固的底座和真正的三腳架結構

  四面環(huán)??諝廨S承的結構

  集成了地震防護系統(tǒng)

  玻璃陶瓷光柵尺,其幾乎沒有溫度膨脹

  

 

  玻璃陶瓷光柵尺

  

蔡司三坐標測量機

 

  占地面積小

  特殊的設計以適應更多的測量環(huán)境

  特殊設計的背包式控制柜使得占地面積更小。除了擁有被動減振系統(tǒng)和地震防護以外,ZEISS SPECTRUM還包含了出色的硬件,保證可靠測量結果。


可配置的傳感器

測量范圍(in mm)

500 x 500 x 600
700 x 700 x 600
700 x 1000 x 600


測量誤差E0

自1.9+L/250*μm起




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