Sensofar S neox突破邊界的光學測量革新者
參考價 | ¥ 800000 |
訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 西班牙
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/8/13 11:06:37
- 訪問次數(shù) 23
聯(lián)系方式:邱經(jīng)理17701039158 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
---|
在精密測量的復雜版圖中,Sensofar S neox 以其設(shè)計和強大的功能,成為眾多行業(yè)實現(xiàn)高精度檢測與研究的得力助手。無論是在追求工藝的工業(yè)生產(chǎn),還是探索微觀奧秘的科研領(lǐng)域,S neox 都展現(xiàn)出適用性。
四合一技術(shù),適應(yīng)多元測量需求
S neox 將共聚焦、干涉、Ai 多焦面疊加以及薄膜測量技術(shù)融合于一體,打造出一套適應(yīng)各類表面測量的綜合性方案。其共聚焦技術(shù),借助高數(shù)值孔徑物鏡,能夠?qū)崿F(xiàn)高達 0.15μm 的橫向分辨率,即使面對具有復雜微觀結(jié)構(gòu)的樣品,也能精準捕捉其表面細節(jié),特別適合關(guān)鍵尺寸測量。干涉技術(shù)涵蓋相位差干涉和白光干涉,前者能以亞納米級精度測量高度光滑且連續(xù)的表面,后者則在納米級精度下對各類表面進行高度形貌測量,且不同放大倍數(shù)下均能維持出色的縱向分辨率。Ai 多焦面疊加技術(shù)專為大粗糙表面設(shè)計,憑借主動照明機制,不僅能在高斜率(可達 86°)表面上穩(wěn)定工作,還能實現(xiàn)快速測量(速度高達 3mm/s),有效補充了低放大率下的測量能力。此外,S neox 的薄膜測量技術(shù)可在 1 秒內(nèi)完成對 50nm 至 1.5μm 厚度透明膜的測量,測量光斑最小可達 0.5μm,為薄膜相關(guān)研究與生產(chǎn)提供了高效手段。
高速采集,提升工作效率
得益于全新的智能算法與高性能相機,S neox 的數(shù)據(jù)采集速度達到了 180fps,標準測量采集速度相較于前代產(chǎn)品提升了 5 倍,成為市場上數(shù)據(jù)獲取極為高效的區(qū)域測量系統(tǒng)。這一特性在對大量樣品進行快速篩查,或在實時監(jiān)測生產(chǎn)線上產(chǎn)品質(zhì)量時優(yōu)勢盡顯。例如,在半導體芯片制造的質(zhì)量控制環(huán)節(jié),S neox 能在短時間內(nèi)對芯片表面進行大面積掃描,迅速識別出潛在的缺陷,大大縮短了檢測周期,保障生產(chǎn)流程的高效運轉(zhuǎn)。
簡潔易用,降低操作門檻
Sensofar 始終致力于為用戶提供出色體驗,S neox 的第五代系統(tǒng)將操作便利性提升到新高度。即使是初次接觸的用戶,也能通過簡單的一鍵操作完成復雜測量任務(wù)。系統(tǒng)配套的 SensoSCAN 軟件擁有直觀的用戶界面,通過清晰的導航引導用戶在 3D 環(huán)境中進行操作。在測量準備階段,用戶借助概覽工具可對樣品進行全面檢查,確定測量位置,高倍放大操作也變得輕松便捷。同時,軟件具備的 3D 自動功能,能自動判斷并設(shè)置優(yōu)良測量參數(shù),無需用戶手動調(diào)試,大幅提升了測量效率與準確性。
堅固耐用,適應(yīng)復雜環(huán)境
在實際應(yīng)用場景中,許多生產(chǎn)環(huán)境充滿挑戰(zhàn),如存在振動、碎屑或腐蝕性物質(zhì)等。S neox 通過精心設(shè)計,有效應(yīng)對這些難題。其良好的密封構(gòu)造可防止碎屑和顆粒進入內(nèi)部,無運動部件的光學設(shè)計極大降低了機械故障風險,保障系統(tǒng)長期穩(wěn)定運行。對于有特殊環(huán)境要求的行業(yè),如半導體制造等對潔凈度要求領(lǐng)域,S neox 還推出了兼容 ISO 1 級無塵室的型號。該型號經(jīng)過嚴格測試,在滿足無塵環(huán)境要求的同時,保留了 S neox 的所有強大功能,確保在苛刻環(huán)境下仍能提供精準測量結(jié)果。
廣泛應(yīng)用,助力多領(lǐng)域發(fā)展
S neox 的應(yīng)用范圍極為廣泛。在半導體領(lǐng)域,可用于監(jiān)測化學機械拋光(CMP)過程中晶圓表面的平整度,為芯片制造工藝優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù);在光學元件制造方面,能精確檢測鏡片、透鏡等表面的微觀缺陷與粗糙度,保障光學元件的成像質(zhì)量;在醫(yī)療設(shè)備生產(chǎn)中,對于微流體芯片、植入式器械等的表面質(zhì)量檢測,有助于提升醫(yī)療器械的安全性與可靠性。以某光學企業(yè)為例,引入 S neox 后,其光學鏡片的次品率顯著降低,產(chǎn)品的光學性能一致性得到大幅提升,增強了企業(yè)在市場中的競爭力。
選擇 Sensofar S neox,意味著在精密測量領(lǐng)域擁有一位全面且可靠的伙伴。它憑借優(yōu)良技術(shù)、高效性能、便捷操作以及強大的環(huán)境適應(yīng)性,為科研與工業(yè)生產(chǎn)提供精準、快速的測量解決方案,助力各行業(yè)在追求高精度與高質(zhì)量的道路上不斷邁進,實現(xiàn)新的突破與發(fā)展。