Bruker白光干涉儀：表面測(cè)量解決方案
| 參考價(jià) | ￥ 900000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 德國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/8/19 9:46:05
- 訪問次數(shù) 9
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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
|---|
Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款優(yōu)良的三維光學(xué)表面輪廓儀，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用白光干涉技術(shù)，通過測(cè)量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測(cè)量方式避免了對(duì)樣品的物理損傷，適用于多種材料和復(fù)雜表面的測(cè)量。Bruker白光干涉儀：表面測(cè)量解決方案
產(chǎn)品性能方面，布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀具備高精度和高分辨率，垂直測(cè)量范圍可達(dá)0.1nm至1mm，垂直分辨率小于0.1nmRa，RMS重現(xiàn)性可達(dá)0.01nm。設(shè)備支持多種測(cè)量模式，如相移干涉（PSI）和垂直掃描干涉（VSI），適用于不同表面特性樣品的測(cè)量。
在操作方面，設(shè)備配備直觀的用戶界面和優(yōu)化的分析軟件，支持?jǐn)?shù)據(jù)處理速度提升幾十倍，分析速度提升十倍，支持?jǐn)?shù)據(jù)無縫拼接和可視化操作工具，便于用戶快速完成測(cè)量和分析。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀適用于LED、半導(dǎo)體、太陽能、醫(yī)療設(shè)備、MEMS等領(lǐng)域的表面形貌和粗糙度測(cè)量，是科研和工業(yè)應(yīng)用中的理想選擇。Bruker白光干涉儀：表面測(cè)量解決方案
Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款基于白光干涉原理的三維光學(xué)表面輪廓儀，廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用優(yōu)良的白光干涉技術(shù)，通過測(cè)量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測(cè)量方式避免了對(duì)樣品的物理損傷，適用于多種材料和復(fù)雜表面的測(cè)量。
產(chǎn)品性能方面，Bruker白光干涉儀具備高精度和高分辨率，垂直測(cè)量范圍可達(dá)0.1nm至1mm，垂直分辨率小于0.1nmRa，RMS重現(xiàn)性可達(dá)0.01nm。設(shè)備支持多種測(cè)量模式，如相移干涉（PSI）和垂直掃描干涉（VSI），適用于不同表面特性樣品的測(cè)量。
在操作方面，設(shè)備配備直觀的用戶界面和優(yōu)化的分析軟件，支持?jǐn)?shù)據(jù)處理速度提升幾十倍，分析速度提升十倍，支持?jǐn)?shù)據(jù)無縫拼接和可視化操作工具，便于用戶快速完成測(cè)量和分析。
Bruker白光干涉儀適用于LED、半導(dǎo)體、太陽能、醫(yī)療設(shè)備、MEMS等領(lǐng)域的表面形貌和粗糙度測(cè)量，是科研和工業(yè)應(yīng)用中的理想選擇。
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