BEUKER光學輪廓儀：高效測量微納結(jié)構(gòu)
| 參考價 | ￥ 900000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/8/19 10:02:02
- 訪問次數(shù) 11
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
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BEUKER三維測量白光干涉光學輪廓儀為微納尺度表面檢測提供高效解決方案。其模塊化設(shè)計支持靈活配置，滿足多樣化測量需求。布魯克白光干涉光學輪廓儀：高效測量微納結(jié)構(gòu)
布魯克白光干涉光學輪廓儀產(chǎn)品特點
快速掃描：單次測量時間小于3秒，適合批量檢測。
多模式分析：支持白光干涉和共聚焦模式切換，適應不同反射率樣品。
布魯克三維測量白光干涉光學輪廓儀關(guān)鍵參數(shù)
垂直分辨率：0.1nm
最大視場：5mm×5mm
重復性誤差：<1%
布魯克三維測量白光干涉光學輪廓儀型號推薦
BKI-250：經(jīng)濟實用型，適合教學與小規(guī)模檢測。
BKI-350：工業(yè)級配置，抗振動干擾能力強。
布魯克三維測量白光干涉光學輪廓儀應用領(lǐng)域
半導體晶圓缺陷檢測
MEMS器件形貌分析
光學鍍膜均勻性評估
操作指南
清潔樣品表面以避免雜散光干擾。
根據(jù)樣品特性選擇干涉或共聚焦模式。
使用校準片定期進行設(shè)備校驗。
布魯克白光干涉光學輪廓儀：高效測量微納結(jié)構(gòu)
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