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氧化鎵電阻率方阻測試儀PX 1802
碳化硅電阻率方阻測試儀PX 1802
晶圓電阻率測試儀PX 1802
無損電阻率測試儀PX 1802
無損方塊電阻測試儀PX 1802
晶錠非接觸方阻測試儀PX 1802
渦流法方阻測試儀PX 1802
非接觸方阻測試儀PX 1802
全自動非接觸電阻率方阻測試儀PX 1802
WD4000晶圓厚度測量設(shè)備PX 6511
WD4000無圖晶圓厚度翹曲量測系統(tǒng)PX 6511
KIN-053D形貌測量設(shè)備PX 0
KIN-063D形貌輪廓測量設(shè)備(帶電動壓板)PX 0
YAMADA京都玉崎目視晶圓缺陷YP-250ID現(xiàn)貨控制器HPS-250PX 3437
FUNATECH船越龍手持式晶圓缺陷光學玻璃檢查燈FY-18N現(xiàn)貨PX 3437
FUNATECH船越龍手持式FY-18L晶圓缺陷光學玻璃檢查燈現(xiàn)貨PX 3437
FUNATECH船越龍手持式晶圓缺陷光學玻璃檢查燈FY-18NH現(xiàn)貨PX 3437
FUNATECH船越龍手持式晶圓缺陷光學玻璃檢查燈FY-18LH現(xiàn)貨PX 3437
FUNATECH船越龍手持式缺陷玻璃FY-18LH表面瑕疵現(xiàn)貨檢查燈PX 3437
FUNATECH船越龍手持式缺陷玻璃FY-18NH表面瑕疵現(xiàn)貨檢查燈PX 3437
FUNATECH船越龍手持式FY-18N缺陷玻璃表面瑕疵現(xiàn)貨光源PX 3437
FUNATECH船越龍手持式缺陷玻璃表面瑕疵現(xiàn)貨光源FY-18LPX 3437
YAMADA京都玉崎光學晶圓缺陷玻璃YP-150ID表面瑕疵現(xiàn)貨光源PX 3437
YAMADA京都玉崎光學晶圓缺陷玻璃表面瑕疵YP-250ID現(xiàn)貨光源PX 3437
YAMADA京都玉崎光學晶圓缺陷玻璃表面瑕疵現(xiàn)貨YP-150I光源PX 3437
YAMADA京都玉崎光學晶圓缺陷玻璃表面瑕疵現(xiàn)貨光源YP-250IPX 3437
YAMADA京都玉崎目視晶圓缺陷400000lux現(xiàn)貨YP-250I照明裝置PX 3437
YAMADA京都玉崎目視晶圓缺陷YP-150I 400,000luxes照明裝置PX 3437
YAMADA京都玉崎目視YP-250ID晶圓缺陷400,000luxes照明裝置PX 3437
YAMADA京都玉崎目視晶圓缺陷400,000luxes照明裝置YP-150IDPX 3437
YAMADA京都玉崎晶圓缺陷目視用現(xiàn)貨高亮度YP-150ID鹵素射燈PX 3437
YAMADA京都玉崎晶圓缺陷目視用現(xiàn)貨YP-250ID高亮度鹵素射燈PX 3437
YAMADA京都玉崎晶圓缺陷目視用YP-250I現(xiàn)貨高亮度鹵素射燈PX 3437
YAMADA京都玉崎晶圓缺陷目視用現(xiàn)貨高亮度鹵素射燈YP-150IPX 3437
YAMADA京都玉崎光學檢測YP-250I目視用霧度檢查裝置 現(xiàn)貨PX 3437
YAMADA京都玉崎光學檢測目視用霧度檢查裝置YP-150I現(xiàn)貨PX 3437
YAMADA京都玉崎光學檢測目視用YP-250ID霧度檢查裝置現(xiàn)貨PX 3437
YAMADA京都玉崎光學檢測目視用YP-150ID霧度檢查裝置現(xiàn)貨PX 3437
INTECS英特斯晶圓檢測目視用UIH-1C霧度檢查照明裝置現(xiàn)貨PX 3437
INTECS英特斯晶圓檢測倉庫現(xiàn)貨檢查用照明裝置UIH-2DPX 3437
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
渦流法金屬薄膜電阻率測試儀
晶圓厚度/電阻率/PN摻雜型測量儀 MX6012
晶圓THK測量設(shè)備
非接觸式晶圓厚度測量儀 MX 301-Q
晶圓電子束密閉檢測儀
晶圓光學除塵儀
自動粉體半導(dǎo)電電阻測試儀
EFFILUX 晶圓玻璃表面檢測燈 PSVLX1-F5016
全自動非接觸電阻率方阻測試儀
晶圓缺陷光學檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學儀器有限公司
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