分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價(jià)：面議
●非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè)●采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性●可進(jìn)行高速的即時(shí)研磨檢測(cè)●可穿越保護(hù)膜、觀景窗等中間層的檢測(cè)●可對(duì)應(yīng)長(zhǎng)工作距離、且容易安裝...
光波場(chǎng)三維顯微鏡 MINUK 參考價(jià)：面議
MINUK是一種可以評(píng)估納米量級(jí)的透明異物和缺陷的設(shè)備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無(wú)損、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測(cè)量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定...
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE 參考價(jià)：面議
本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測(cè)量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE 參考價(jià)：面議
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測(cè)定、粒子濃度測(cè)定、微流變測(cè)定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測(cè)定)● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測(cè)量粒徑和zeta電位● 可以測(cè)量從稀薄...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價(jià)：面議
ELSZ series的最zu高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價(jià)：面議
●可測(cè)量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測(cè)量的檢測(cè)裝置?！襁m用于粒徑測(cè)量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 參考價(jià)：面議
利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。
Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300 參考價(jià)：面議
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求●支持槽口對(duì)齊功能●小尺寸規(guī)格●高精度自...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
顯微分光膜厚儀 參考價(jià)：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測(cè)量項(xiàng)目：?絕.對(duì)反射率測(cè)量?多層膜解析?光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）
熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
QE-2000熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)瞬間測(cè)量絕.對(duì)量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測(cè)量。通過(guò)低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域 的雜散...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
5